ПРИКАСПИЙСКИЙ ЖУРНАЛ

УПРАВЛЕНИЕ И ВЫСОКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Синтез мультиграфена на поликристаллических пленках никеля методом CVD

Читать Булатова Алсу Наилевна Синтез мультиграфена на поликристаллических пленках никеля методом CVD  // Прикаспийский журнал:  управление и высокие технологии. — 2011. — №4. — Стр. 97-103.

Булатова Алсу Наилевна - кандидат физико-математических наук, Астраханский государственный университет, 414056, Россия, Астрахань, Татищева, 20 а, anbulatova@mail.ru.

Актуальность применения графена в необычайно широком диапазоне различных технологических приложений, в первую очередь, обусловлена его экстраординарными физическими свойствами. В последние время активно ведутся исследования, посвященные разработке новых методов получения графена в макроскопических количествах. Наиболее вероятно, что в будущем электронные устройства будут изготавливаться на основе графеновых слоев, выращенных на различных подложках. Изучение влияния подложки на свойства графена открывает новые возможности в целенаправленном влиянии на характеристики этого уникального материала. В ходе проведенного исследования CVD методом были получены мультиграфеновые пленки и исследованы их оптические характеристики в УФ и видимом диапазоне. По данным оптической микроскопии и оже-спектрометрии мультиграфеновые пленки полностью, без разрывов покрывали поверхность подложки и имели толщину в 7–8 слоев, за исключением отдельных хлопьевидных областей (размером около 30 мкм) толщиной в 3–4 слоя. Было выявлено, что изменение количества слоев мультиграфена не влияет на профиль спектра в УФ-видимом диапазоне. Наибольшей пропускной способностью в этом диапазоне обладали хлопьевидные области. На всех спектрах был обнаружен пик поглощения в области ? = 250 нм, который соответствует ?-?* переходам ароматических связей C-C [5]. Увеличение поглощения в видимой области спектра, очевидно, вызвано влиянием Ni подложки и дефектами структуры мультиграфена.

Ключевые слова: мультиграфен,CVD метод,никель,оптическая микроскопия,оже-спектрометрия,число слоев,рентгеновская дифрактометрия,УФ-видимый спектр