ПРИКАСПИЙСКИЙ ЖУРНАЛ
УПРАВЛЕНИЕ И ВЫСОКИЕ ТЕХНОЛОГИИ
Формальные метрики для автоматизированной оценки изобретений
 |
Читать | Кравец А.Г., Легенченко М.С. Формальные метрики для автоматизированной оценки изобретений // Прикаспийский журнал: управление и высокие технологии. — 2017. — №3. — Стр. 8-19. |
/8-19.jpg)
Кравец А.Г. - доктор технических наук, профессор, Волгоградский государственный технический университет, 400005, Российская Федерация, г. Волгоград, пр. им. Ленина, 28, agk@gde.ru
Легенченко М.С. - магистрант, Волгоградский государственный технический университет, 400005, Российская Федерация, г. Волгоград, пр. им. Ленина, 28, asassdas2@gmail.com
Цели исследования, описанного в данной статье: формирование новых подходов к выявлению формальных метрик для оценки изобретения на основании информации, имеющейся в патентной заявке и в патентном массиве; разработка методов формализации оценки мирового технического уровня в определенной предметной области с учетом его кросстематических связей с другими областями знаний и технологий; исследование возможностей применения разработанных метрик в автоматизированных системах патентного поиска; анализ эффективности формальных подходов к экспертизе изобретения, на которое подана патентная заявка. Для достижения поставленных целей решен ряд научных задач. Проведено феноменологическое исследование некоторых развитых технологий с учетом их кросстематических связей; установлены и теоретически обоснованы общие закономерности и основные этапы жизненного цикла технологий. Охарактеризованы процессы эволюции зависимостей некоторых показателей технологий от времени. Определены взаимосвязи между общими показателями, присущими любой технологии. Предложенные подходы позволяют прогнозировать некоторые процессы жизненного цикла изобретения и сопутствующих технологий, а также накапливать опыт в виде новых знаний и зависимостей в сфере предсказания состояния мирового технического уровня.
Ключевые слова: патентная экспертиза, формализация оценок, алгоритмы формализации, мировой технический уровень, промышленная применимость, потенциал модернизации, информационные технологии, поддержка принятия решений, метрики оценки, математические модели, patent examina